systems test - ترجمة إلى العربية
Diclib.com
قاموس ChatGPT
أدخل كلمة أو عبارة بأي لغة 👆
اللغة:

ترجمة وتحليل الكلمات عن طريق الذكاء الاصطناعي ChatGPT

في هذه الصفحة يمكنك الحصول على تحليل مفصل لكلمة أو عبارة باستخدام أفضل تقنيات الذكاء الاصطناعي المتوفرة اليوم:

  • كيف يتم استخدام الكلمة في اللغة
  • تردد الكلمة
  • ما إذا كانت الكلمة تستخدم في كثير من الأحيان في اللغة المنطوقة أو المكتوبة
  • خيارات الترجمة إلى الروسية أو الإسبانية، على التوالي
  • أمثلة على استخدام الكلمة (عدة عبارات مع الترجمة)
  • أصل الكلمة

systems test - ترجمة إلى العربية

APPARATUS USED IN HARDWARE TESTING
Automatic Test Equipment; Automated test equipment; ATE diagnostics; ATE Diagnostics; Semiconductor test equipment; Automatic Test Systems; Automatic test systems
  • [[Keithley Instruments]] Series 4200 CVU

systems test      
إختبار نظم
system analyst         
IT PROFESSIONAL WHO SPECIALIZES IN ANALYZING, DESIGNING AND IMPLEMENTING INFORMATION SYSTEMS
System analyst; Systems Analyst; Computer systems analyst; Computer Systems Analysts; Computer Systems Analyst
محلل نظم
computer systems analyst         
IT PROFESSIONAL WHO SPECIALIZES IN ANALYZING, DESIGNING AND IMPLEMENTING INFORMATION SYSTEMS
System analyst; Systems Analyst; Computer systems analyst; Computer Systems Analysts; Computer Systems Analyst
محلل نظم الأجهزة الحاسبة

تعريف

test case
(test cases)
A test case is a legal case which becomes an example for deciding other similar cases.
N-COUNT

ويكيبيديا

Automatic test equipment

Automatic test equipment or automated test equipment (ATE) is any apparatus that performs tests on a device, known as the device under test (DUT), equipment under test (EUT) or unit under test (UUT), using automation to quickly perform measurements and evaluate the test results. An ATE can be a simple computer-controlled digital multimeter, or a complicated system containing dozens of complex test instruments (real or simulated electronic test equipment) capable of automatically testing and diagnosing faults in sophisticated electronic packaged parts or on wafer testing, including system on chips and integrated circuits.